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桌面型X射線衍射儀利用X射線與晶體相互作用原理,通過(guò)測(cè)量衍射圖案來(lái)分析材料的晶體結(jié)構(gòu)、相組成及晶粒特性。該儀器采用高精度θ-θ立式測(cè)角儀與先進(jìn)的探測(cè)器技術(shù),確保數(shù)據(jù)的高分辨率與準(zhǔn)確性。同時(shí),內(nèi)置的分析軟件可實(shí)現(xiàn)一鍵式操作與自動(dòng)化數(shù)據(jù)分析,簡(jiǎn)化實(shí)驗(yàn)流程。桌面型X射線衍射儀在實(shí)際使用...
X射線單晶衍射儀通過(guò)X射線與晶體中規(guī)則排列原子的相互作用,結(jié)合精密儀器與數(shù)學(xué)計(jì)算,揭示分子三維結(jié)構(gòu),其原理與流程如下:核心原理:X射線衍射與布拉格方程當(dāng)單色X射線(如銅靶的CuKα輻射)照射到單晶體上時(shí),晶體中規(guī)則排列的原子間距與X射線波長(zhǎng)數(shù)量級(jí)相當(dāng),原子散射的X射線發(fā)生干涉,在特定方向(滿足布拉格方程nλ=2dsinθ的方向)產(chǎn)生強(qiáng)衍射。其中,λ為X射線波長(zhǎng),d為晶面間距,θ為入射角,n為衍射級(jí)數(shù)。衍射方向與晶體結(jié)構(gòu)直接相關(guān),每種晶體產(chǎn)生獨(dú)特的衍射花樣。關(guān)鍵步驟:從衍射數(shù)據(jù)...
桌面型X射線衍射儀在質(zhì)量控制中扮演著關(guān)鍵角色,其通過(guò)非破壞性檢測(cè)手段精準(zhǔn)分析材料晶體結(jié)構(gòu)、成分及應(yīng)力信息,為產(chǎn)品一致性、缺陷識(shí)別和工藝優(yōu)化提供科學(xué)依據(jù),尤其在材料研發(fā)、失效分析和復(fù)雜結(jié)構(gòu)檢測(cè)領(lǐng)域具有不可替代的作用。以下從核心功能和應(yīng)用場(chǎng)景兩方面闡述其作用:一、核心功能:基于晶體結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析1.晶體結(jié)構(gòu)解析通過(guò)測(cè)量X射線與晶體材料相互作用產(chǎn)生的衍射角度及強(qiáng)度,依據(jù)布拉格定律計(jì)算晶面間距,可定量分析材料的物相組成、晶體結(jié)構(gòu)及取向。例如,在焊接工藝中,通過(guò)分析焊接區(qū)的晶體結(jié)構(gòu),可...
校準(zhǔn)TD-3700X射線衍射儀是確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性和儀器性能穩(wěn)定的重要步驟。以下是校準(zhǔn)TD-3700X射線衍射儀的詳細(xì)步驟:一、前期準(zhǔn)備1.實(shí)驗(yàn)環(huán)境準(zhǔn)備:打開實(shí)驗(yàn)室的空調(diào)和排氣扇,確保實(shí)驗(yàn)環(huán)境的溫度、濕度適宜。保持實(shí)驗(yàn)室地面干燥無(wú)雜物,防止滑倒或觸碰設(shè)備。2.儀器檢查與開啟:檢查設(shè)備外殼是否完整,觀察鉛玻璃防護(hù)罩有無(wú)裂紋,門縫密封條是否脫落。按照正確的輸入、輸出順序打開穩(wěn)壓器,為儀器提供穩(wěn)定的電源。如果儀器配備水冷系統(tǒng),需開啟水冷系統(tǒng),并調(diào)整水冷機(jī)的設(shè)定溫度(例如25℃),同...
X射線吸收譜(XAS)是一種基于同步輻射光源的先進(jìn)分析技術(shù),通過(guò)測(cè)量物質(zhì)對(duì)X射線的吸收特性,揭示原子局域電子態(tài)及幾何結(jié)構(gòu)信息。其核心原理可分解為物理過(guò)程與能量分區(qū)兩大維度:物理過(guò)程:電子躍遷與散射干涉當(dāng)X射線能量達(dá)到原子內(nèi)層電子(如K、L層)的電離能時(shí),電子被激發(fā)為光電子,形成吸收邊的突躍。光電子以波函數(shù)形式向外傳播,若遇到近鄰原子會(huì)發(fā)生彈性散射(背散射),散射波與出射波在吸收原子處干涉,導(dǎo)致吸收系數(shù)隨能量周期性振蕩。這一過(guò)程可通過(guò)朗伯-比爾定律定量描述:吸收系數(shù)μ(E)與樣...
提高二維X射線衍射儀的性能可以從以下幾個(gè)方面進(jìn)行:一、優(yōu)化儀器配置1.升級(jí)探測(cè)器:選擇高靈敏度和高分辨率的探測(cè)器,如4KCCD芯片,可以提高衍射圖像的采集質(zhì)量,從而提升儀器的整體性能。2.配置微焦斑點(diǎn)光源:與傳統(tǒng)線光源相比,微焦斑點(diǎn)光源能夠提供更小的光斑尺寸,通常小于幾十微米,甚至達(dá)到亞微米級(jí)。這種高精度的光源使得XRD分析能夠在微小區(qū)域內(nèi)進(jìn)行,有助于提高儀器的分辨率和測(cè)試精度。3.使用二維探測(cè)器:二維探測(cè)器能夠同時(shí)記錄多個(gè)角度的衍射信號(hào),形成二維衍射圖譜,大大提高了數(shù)據(jù)收集...
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